장비소개
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● 표면분석
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기기명 | SEM-EDS (주사전자현미경) | ||
| 제작회사 | HITACHI | 모델명 | SU3800 | |
| 활용분야 |
시료의 표면과 단면을 이미지화하여 형상을 파악, 성분분석기(EDS)를 활용하여 시료의 성분을 분석 |
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기기명 | Mini X-ray Diffractometer | ||
| 제작회사 | Bruker | 모델명 | D2 Phaser | |
| 활용분야 |
X-선 회절은 원자가 규칙적으로 배열된 시료에 X선을 입사하여 각 원자로부터 산란한
X선의 간섭현상에 의해 나타나는 회절 패턴을 이용하여 결정구조와 구성을 분석 |
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기기명 | 광학현미경 | ||
| 제작회사 | SOMTECH | 모델명 | EGVM-452M | |
| 활용분야 | 회로, 반도체부품, 세라믹, 금속, Powder 등의 재료 및 제품의 구조분석 및 도금두께 측정 | |||
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기기명 | XRF (X선 형광분석기) | ||
| 제작회사 | SHIMADZU | 모델명 | EDX-LE | |
| 활용분야 |
특정 X-ray를 이용하여 미지시료의 정성분석 |
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