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기기명 |
ICP-OES (유도결합플라즈마 분광분석기) |
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제작회사 | Varian | 모델명 | Vista Pro | |
활용분야 |
전기, 전자부품 중의 중금속의 분석, 환경시료 중의 중금속 분석, 액상시료에 함유한 무기원소 분석 |
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기기명 | IC (이온크로마토그래피) | ||
제작회사 | DIONEX | 모델명 | 1500 | |
활용분야 | 환경시료 중의 용출액인 액상시료에 함유된 무기 이온 원소분석 |
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기기명 | AAS (원자흡수분광기) | ||
제작회사 | Varian | 모델명 | Spectra 800 | |
활용분야 |
원소의 정성, 정량분석이 가능하며 특히 미량의 무기원소분석 |
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기기명 | CS (탄소유황분석기) | ||
제작회사 | ELTRA GmBH | 모델명 | CS-2000 | |
활용분야 | 철강, 비철금속, 광석, Glass, Cement 등의 무기질 중에 함유되어 있는 탄소/유황을 측정 |
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기기명 | ONH 분석기 (산소/질소/수소 분석기) | ||
제작회사 | ELTRA | 모델명 | ONH-2000 | |
활용분야 | ONH 분석기는 무기물 중의 산소, 질소 및 수소분석 |
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기기명 | 발광분광분석기 | ||
제작회사 | Bruker | 모델명 | Q8 MAGELLAN | |
활용분야 |
철, 알루미늄, 동, 니켈 재질의 시료에 포함되어 있는 강족 원소를 정량 및 정성분석 |
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기기명 | FT-IR (적외선 분광기) | ||
제작회사 | Thermo Fisher Scientific |
모델명 | Nicolet Summit | |
활용분야 | 유기화합물 주성분 정성분석 |
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기기명 |
GC-MS (가스크로마토그래피/질량분석기) |
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제작회사 | SHIMADZU | 모델명 | GCMS QP2010 Ultra | |
활용분야 | 유기화합물 정성/정량분석 |
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기기명 | NMR (핵자기공명분광분석기) | ||
제작회사 | Agilent | 모델명 | 400MR-DD2 | |
활용분야 |
유기물, 금속-유기 및 생화학분자의 확인과 구조를 규명 |
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기기명 | EA (원소분석기) | ||
제작회사 | Thermo Fisher | 모델명 | Flash 2000 | |
활용분야 |
Rubber, Coal, Oil, Pharmaceuticals,
Chemical, 환경폐기물, 토양 등의 기타
유기물 중의 탄소, 수소, 질소, 산소 함량을 측정 |
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기기명 | HPLC (고성능액체크로마토그래피) | ||
제작회사 | Agilent | 모델명 | 1100 | |
활용분야 |
혼합 유기물질의 분리, 정성 및 정량분석 |
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기기명 | GPC - 겔투과크로마토그래피 | ||
제작회사 | Waters | 모델명 | ACQUITY UPLC | |
활용분야 | 다공성 겔을 이용하여 분자량 차이에 의해 물질을 분리하는 현상을 이용하는 장비 |
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기기명 | HS-GC/MS | ||
제작회사 | JEOL | 모델명 | JMS-QI050GC | |
활용분야 | (60 ~ 200) ℃ 에서 유기 미지시료의 정성 분석 |
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기기명 | TD-GC/MS | ||
제작회사 | PerkinElme | 모델명 | TurboMatrix ATD | |
활용분야 | 실내공기질 시료의 정성 및 정량 분석 |
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기기명 | SEM-EDS (주사전자현미경) | ||
제작회사 | JEOL | 모델명 | JSM-6010LA | |
활용분야 |
회로, 반도체부품, 세라믹, 금속, Powder 등의
재료 및 제품의 미세구조 분석, 파단면
고장분석, 재료의 구성 원소분포 및 정성분석 |
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기기명 | XRD (X선 회절분석기) | ||
제작회사 | PANalytical B. V | 모델명 | EMPYREAN | |
활용분야 |
X선 입자를 통해 임계각도 이하로 부터
원하는 각도까지 변화시켰을 때 시료로 부터
반사 X선 세기를 측정하여 데이터를 분석 |
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기기명 | 광학현미경 | ||
제작회사 | SOMTECH | 모델명 | EGVM-452M | |
활용분야 | 회로, 반도체부품, 세라믹, 금속, Powder 등의 재료 및 제품의 구조분석 및 도금두께 측정 |
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기기명 | XRF (X선 형광분석기) | ||
제작회사 | SHIMADZU | 모델명 | EDX-720EDX-820 | |
활용분야 |
특정 X-ray를 이용하여 미지시료의 정성분석 |